波段極紫外成像光學(xué)儀器成像質(zhì)量測(cè)驗(yàn)設(shè)備
來源:中創(chuàng)儀器
時(shí)間:2016-01-04
要求(專利)號(hào):CN200610163271.4要求日:2006.12.18
揭露(布告)號(hào):CN101169349揭露(布告)日:2008.04.30
主分類號(hào):G01M11/00(2006.01)I范疇分類:
分類號(hào):G01M11/00(2006.01)I;G01M11/02(2006.01)I
要求(專利權(quán))人:中國科學(xué)院長春光學(xué)精細(xì)機(jī)械與物理研究所
地址:130031吉林省長春市東南湖大道16號(hào)
國省代碼:吉林;22
創(chuàng)造(規(guī)劃)人:鞏巖
專利署理組織:長春菁華專利商標(biāo)署理事務(wù)所
署理人:南小平
★ 摘要
本創(chuàng)造歸于短波段成像光學(xué)范疇,詳細(xì)的說是一種極紫外成像光學(xué)儀器成像質(zhì)量測(cè)驗(yàn)設(shè)備。在本創(chuàng)造中規(guī)劃了如圖所表明的檢查設(shè)備,全部光學(xué)系統(tǒng)均處于真空條件下,極紫外光源1宣布極紫外光束通過精細(xì)描寫的金屬柵網(wǎng)7后,打到反射鏡3和4,最終通過待測(cè)極紫外成像光學(xué)系統(tǒng)5在極紫外相機(jī)6上成像,金屬柵網(wǎng)的網(wǎng)格標(biāo)準(zhǔn)與所成的像進(jìn)行對(duì)比,通過核算即可得到待測(cè)光學(xué)系統(tǒng)的分辨率數(shù)據(jù)。本創(chuàng)造的有利作用為:供給了一種構(gòu)造簡略、功能牢靠可以對(duì)極紫外成像光學(xué)儀器成像質(zhì)量進(jìn)行測(cè)驗(yàn)的設(shè)備。
★ 主權(quán)項(xiàng)
一種6nm-100nm波段極紫外成像光學(xué)儀器成像質(zhì)量測(cè)驗(yàn)設(shè)備,光源(1)發(fā)生的平行光通過辨別率板(2)后經(jīng)反射鏡(3)和(4),最終通過待檢成像系統(tǒng)(5)在探測(cè)器(6)上成像,依據(jù)所成印象中辨別率板的線對(duì)的明晰程度,通過核算既可得到待檢成像光學(xué)系統(tǒng)的分辨率數(shù)據(jù),其特征是:所述辨別率板(2)是精細(xì)描寫的金屬柵網(wǎng)(7)。